廣州昌利信科學儀器有限公司

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CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營：熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計,固體TOC分析儀

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  • X射線熒光鍍層厚度測量儀
    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    概要：是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部

    2012-08-02 電議/套
  • X射線鍍層厚度測定儀--SFT-110
    X射線鍍層厚度測定儀--SFT-1

    日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司推出配備自動定位功能的[X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110]，使操作性進一步提高。對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年初次推出非接觸、短

    2012-08-02 電議/套
  • X射線鍍層厚度測定儀--SFT9200
    X射線鍍層厚度測定儀--SFT92

    「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業(yè)績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優(yōu)點，并不斷地發(fā)展，成為可對應較廣應用范圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。產品型號：SFT9200、SFT9250、SFT9255產品特點：★能夠測量無鉛焊錫★

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  • X射線熒光鍍層厚度測量儀
    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    2012-08-02 電議/套
  • X射線熒光鍍層厚度測量儀
    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    概要：高速X射線管球的搭載，實現了高精度的測定。而且配合較微小準直器和光學變焦鏡頭可以實現較微小部分的測定。更可以對有高低平面差異的樣品進行測定。特長：1.搭載了75W高性能X射線管。2.搭載標準的Φ50μm微小準直管（較小Φ15μm）。3.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4

    2012-08-02 電議/套
  • X射線熒光鍍層厚度測量儀
    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    概要：SFT9000系列里較好的機型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗裝置(半導體檢驗裝置十比例計數管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“較微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜厚測量儀器。而且“SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎上還可以用作異物定性分析和材料成分

    2012-08-02 電議/套
  • X射線熒光鍍層厚度測量儀
    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    概要：是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計�？梢詼y定結構部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對照采用激光射線的Z軸方向的焦點，可以發(fā)揮測定值的再現性。而且物美價廉。特長：1.操作非常簡單。2.運用激光焦點的功能，簡單的調整位置。3.針對有凹凸的樣品也

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