X射線(xiàn)熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
價(jià)格
電議 元/套
- 單價(jià):電議
- 最小起訂量: 1套
- 所在地:廣東 廣州
- 供貨總量: 10000套
- 發(fā)布時(shí)間:2012-08-02
CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營(yíng):熱分析儀,X熒光分析儀,X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚分析儀,能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計(jì),固體TOC分析儀
價(jià)格
電議 元/套
概要:
是利用熒光X射線(xiàn)原理的鍍膜厚度測(cè)量計(jì)。可以測(cè)定結(jié)構(gòu)部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對(duì)照采用激光射線(xiàn)的Z軸方向的焦點(diǎn),可以發(fā)揮測(cè)定值的再現(xiàn)性。而且物美價(jià)廉。
特長(zhǎng):
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1.操作非常簡(jiǎn)單。
2.運(yùn)用激光焦點(diǎn)的功能,簡(jiǎn)單的調(diào)整位置。
3.針對(duì)有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。 4.搭載焦點(diǎn)切換機(jī)構(gòu),可以對(duì)高的樣品的低部分進(jìn)行測(cè)定。(任意選擇) 5.采用可以測(cè)定大型打印基板的狹小間隙機(jī)構(gòu)。
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