CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營:熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計,固體TOC分析儀
概要 :
該儀器對固體試樣施以彎曲、拉伸、剪切等變形,然后根據(jù)其變形量以及反應(yīng)延遲計算試樣的彈性模量和tanδ。能靈敏地檢測到一般熱分析方法無法捕捉的高分子材料的局部松弛等行為。
特長:
1. 對應(yīng)各種各樣的測量
DMS是,能夠用一臺儀器進行從應(yīng)力緩和和潛伸等的靜態(tài)粘彈性測量到動態(tài)粘彈性測量的豐富多彩的測量的。在動態(tài)粘彈性測量中,在高精度的正弦波振動模式以外,還新增加了合成波振動模式。因為合成波模式是,可以以非常快的周期測量復(fù)數(shù)的頻率的,所以能夠使彈性率會激烈地發(fā)生變化的樣品的測量變得更加簡單。
2. 支持測量的自動功能
通過全自動氣體冷卻單元,能夠自動控制從-150℃開始的測量。
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