X射金屬鍍層測(cè)厚儀

X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀：提供鍍層厚度測(cè)量,快速無(wú)損測(cè)量。

只需數(shù)秒鐘便能非破壞性測(cè)量電鍍層膜厚

 

測(cè)量：

 

單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層。

全自動(dòng)樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用

準(zhǔn)確性高,廣泛應(yīng)用五金電鍍,連接器,半導(dǎo)體端子等行業(yè)。

XRF-2020L型測(cè)厚儀或H型

功能特點(diǎn)：

XRF-2002膜厚儀X射線(xiàn)熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用

可在建立測(cè)量曲線(xiàn)存儲(chǔ)的情況下提供易于操作、快速和無(wú)損的電鍍膜厚測(cè)量。

范圍包括從元素周期表中的Ti 22到 U92

XRF-2020具有大小不同的樣品艙。

 

微先鋒XRF-2020電鍍層測(cè)厚儀

 

產(chǎn)品功能：

 

1. 采用X射線(xiàn)熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見(jiàn)的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數(shù)：可測(cè)5層。

3. 測(cè)量產(chǎn)品位置尺寸：標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測(cè)量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)

4. 測(cè)量時(shí)間：通常15秒。

5. H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長(zhǎng)x寬x高)。

6  L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長(zhǎng)x寬x高)。

7. 測(cè)量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

8. 可測(cè)厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

XRF2000電鍍鍍層測(cè)厚儀/電鍍膜厚測(cè)試儀XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量

XRF-2020系列XRF-2000系列測(cè)試范圍   

 

鍍金：0.02-6um

鍍鈀：0.03-6um

鍍鎳：0.5-30um

鍍錫：0.3-50um

鍍銀：0.1-50um

鍍鉻：0.5-30um

鍍鋅：0.5-30um

鍍鋅鎳合金：0.5-30um