深圳市精誠儀器儀表有限公司
已認(rèn)證
shanghai jing cheng xing yi qi yi biao
主營：鋁離子測試包,X光測厚儀,PCB特性阻抗檢測儀,COD水質(zhì)測試包,電鍍膜厚儀,共水水質(zhì)測試包,X光鍍層測厚儀,銅離子測試包
產(chǎn)品描述
X射線熒光測厚儀：提供鍍層厚度測量,快速無損測量。
只需數(shù)秒鐘便能非破壞性測量電鍍層膜厚
測量：
單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層。
全自動樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用
準(zhǔn)確性高,廣泛應(yīng)用五金電鍍,連接器,半導(dǎo)體端子等行業(yè)。
XRF-2020L型測厚儀或H型
功能特點(diǎn)：
XRF-2002膜厚儀X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用
可在建立測量曲線存儲的情況下提供易于操作、快速和無損的電鍍膜厚測量。
范圍包括從元素周期表中的Ti 22到 U92
XRF-2020具有大小不同的樣品艙。
微先鋒XRF-2020電鍍層測厚儀
產(chǎn)品功能：
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數(shù)：可測5層。
3. 測量產(chǎn)品位置尺寸：標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
4. 測量時(shí)間：通常15秒。
5. H型號機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機(jī)箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
XRF2000電鍍鍍層測厚儀/電鍍膜厚測試儀XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量
XRF-2020系列XRF-2000系列測試范圍
鍍金：0.02-6um
鍍鈀：0.03-6um
鍍鎳：0.5-30um
鍍錫：0.3-50um
鍍銀：0.1-50um
鍍鉻：0.5-30um
鍍鋅：0.5-30um
鍍鋅鎳合金：0.5-30um
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