shanghai jing cheng xing yi qi yi biao
主營:鋁離子測試包,X光測厚儀,PCB特性阻抗檢測儀,COD水質(zhì)測試包,電鍍膜厚儀,共水水質(zhì)測試包,X光鍍層測厚儀,銅離子測試包
XRF-2000X射線膜厚儀
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號
不同型號功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
鍍層厚度測試范圍:0.03-35um
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間:10-30秒
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