西安智盈電氣科技有限公司

晶閘管 門極/阻斷特性測試儀

系統(tǒng)概述：晶閘管門極/阻斷特性測試儀是可用于測量晶閘管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM\VGT、IGT、Ih以及二極管的VRRM、IRRM參數以及其它半導體器件的相關參數測試的專業(yè)設備。它的測試方法符合GB/JB/T7626-2013標準。該測試臺具有漏電流自動保護功能，過電壓

2025-03-21 100000/臺

ZY-1500R IGBT 靜態(tài)參數測試

系統(tǒng)概述：針對IGBT的靜態(tài)參數而研發(fā)的智能測試系統(tǒng)，功率3500V、1500A（可擴展），自動化程度高，按照操作人員設定的程序自動工作。計算機記錄測試結果，測試結果可轉化為文本或EXCEL格式存儲，工作時序、開關的動作狀態(tài)、數據采集等均由計算機和PLC共同完成。測試方法靈活，可測試單個

2025-03-21 100000/臺

ZY-200 雪崩能量 測試系統(tǒng)

系統(tǒng)概述：是專門設計測試IGBT、二極管、MOS管測試設備，該設備主要組成單元有：示波器、程控電源、程控電感、電流傳感器、電壓傳感器、雪崩保護電壓控制、IGBT功率型器件、IGBT功率型器件保護電路、計算機程控系統(tǒng)、雪崩電壓采集系統(tǒng)、雪崩電流采集系統(tǒng)、測試夾具、測試標準適配器等。測試方法符合

2025-03-20 100000/臺

DBC-112 可控硅 靜態(tài)綜合

系統(tǒng)概述：針對晶閘管的靜態(tài)參數而研發(fā)的智能測試設備，電壓8500V、10000A（可擴展），自動化程度高，按照操作人員設定的程序自動工作。計算機記錄測試結果，測試結果可轉化為文本或EXCEL格式存儲，工作時序、開關的動作狀態(tài)、數據采集等均由計算機和PLC共同完成。測試方法靈活，可測試單個

2025-03-20 100000/臺

自動熱穩(wěn)態(tài)模塊夾具 供應

本實用新型公開了一種自動壓力機夾具,包括水平設置在壓力機上的多對夾臂,在所述每對夾臂相對的夾持面上均設置有橡膠墊.本實用新型優(yōu)點在于將夾臂的夾持面上設置有橡膠墊,這樣當夾具夾持耐火磚時由于有橡膠墊的緩沖,不僅能夠方便的夾取磚體,而且對耐火磚起到一定的保護作用,有效防止了耐火磚夾裂或夾破,減少了耐

2025-03-19 100000/臺

IGCT測試設備功率器件阻斷特

系統(tǒng)概述：功率半導體阻斷特性測試臺主要完成各類功率器件的斷態(tài)重復峰值電壓（VDRM），反向重復峰值電壓（VRRM）,斷態(tài)直流電壓（VD），及對應的斷態(tài)重復峰值電流（IDRM），反向重復峰值電流（IRRM），及斷態(tài)電流（ID）等參數測試。系統(tǒng)單元及參數條件：序號

2025-03-19 100000/臺

半導體 分立器件測試設備

系統(tǒng)概述：設備的擴展性強，通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V，1250A。采用了脈沖測試法，脈沖寬度為美軍規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內部及測試

2025-03-18 100000/臺

功率器件 圖示系統(tǒng)

系統(tǒng)概述：ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統(tǒng)，系統(tǒng)IV曲線自動生成，也可根據實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點建立，保證了數據的準確可靠。提供在線故障判斷，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試。通過USB或者RS232與電

2025-03-18 100000/臺

晶閘管、IGCT 動態(tài)參數測試

系統(tǒng)概述：本設備適用于模塊及平板型晶閘管及整流管斷態(tài)電壓臨界上升率、通態(tài)峰值電壓、關斷時間、恢復電荷以及反向恢復電流和反向恢復時間的測量。本設備符合國家JB/T7626-2013標準〖反向阻斷三極晶閘管〗測試方法。系統(tǒng)單元：電流上升率di/dt關斷

2025-03-17 100000/臺

半導體器件晶閘管全動態(tài)測試

一.功能簡介全動態(tài)測試的基本原理是在一個工頻半周內對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了元件在整流電路中的工作情況。全動態(tài)測試法是對元件的通態(tài)電流能力、阻斷電壓能力的一種綜合測試，

2025-03-17 100000/臺