西安測(cè)維光電技術(shù)有限公司

顯微鏡LW200-48JFB

儀器用途：具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都

2010-09-27 /