上海如慶電子科技有限公司

日置IM3570日置IM3570

阻抗分析儀IM3570元器件測(cè)量?jī)x器(電感、電容、電阻測(cè)量)1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查?1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查?LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量?基本精度±0.08%的高精度測(cè)量

2015-10-11 39800/臺(tái)

IM3590分析儀IM3590阻抗分析

IM3590阻抗分析儀用于測(cè)量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容)?適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量，1mHz～200kHz的寬范圍信號(hào)源?1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查?可測(cè)量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻?較快2ms的高速測(cè)量，實(shí)現(xiàn)掃描

2015-10-11 39800/臺(tái)

日置3541電阻測(cè)試儀

鋁行業(yè)其他生產(chǎn)設(shè)備寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻計(jì)?廣范圍測(cè)量較低0.1μΩ（20.00mΩ），較高110MΩ?快速采樣,較快可達(dá)0.6ms(*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異)?補(bǔ)正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進(jìn)行溫度補(bǔ)正功能?運(yùn)用4端子測(cè)量技術(shù),測(cè)試線接觸電

2015-10-11 15000/臺(tái)

日置IM353301 LCR測(cè)試儀

LCR測(cè)試儀IM3533/IM3533-01應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域?基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。?在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。?內(nèi)置的低阻

2015-10-11 39800/臺(tái)

日置RM3542電阻測(cè)試儀

電阻計(jì)RM3542，RM3542-01元器件測(cè)量(用于測(cè)量低電阻)?實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度?雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸，實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試?可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量?可用于制造工程中手動(dòng)的取樣檢查單元中不包含試驗(yàn)夾具。請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買時(shí)選擇配套

2015-10-11 39800/臺(tái)

日置RM354201 電阻測(cè)試儀

電阻計(jì)RM3542，RM3542-01元器件測(cè)量(用于測(cè)量低電阻)?實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度?雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸，實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試?可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量?可用于制造工程中手動(dòng)的取樣檢查單元中不包含試驗(yàn)夾具。請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買時(shí)選擇配套

2015-10-11 39800/臺(tái)

日置RM3543電阻測(cè)試儀

電阻計(jì)RM3543，RM3543-01元器件測(cè)量(用于測(cè)量低電阻)用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的電阻計(jì)?自動(dòng)化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率?優(yōu)越的反復(fù)測(cè)量精度?提供高性能的接觸檢查功能，比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能?直觀的用戶接口，高度抗干擾性，較適用于自動(dòng)整體化

2015-10-11 39800/臺(tái)

日置 IM3523 LCR測(cè)試儀

LCR測(cè)試儀IM3523應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇?基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)?在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。?內(nèi)置比較器和BIN功能?2毫秒

2015-10-11 39800/臺(tái)