ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀:
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)高精度的測(cè)量;
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀配合渦流探頭:
FTA3.3H,測(cè)量范圍:0 - 1200 μm
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀常用渦流探頭:FTA3.3H,測(cè)量范圍:0 - 1200 μm,測(cè)量精度:0~50μm,± 0.25μm;50~8000μm,± 0.5 %;800~1200μm,< 2.5%
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