雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀BEST-300C

適用范圍四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀電阻測(cè)量范圍：

電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  較小1μΩ

測(cè)量誤差±5%

測(cè)量電壓量程：2mV  20mV 200mV2V

測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV

電流輸出：直流電流0～1000mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。

量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,

誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm

顯示方式：液晶顯示

電源：220±10% 50HZ/60HZ 

標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

雙極板材料四探針低電阻測(cè)試儀

GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針法

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法

GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針法

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無(wú)損檢測(cè)、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。

半導(dǎo)電材料電阻測(cè)試儀時(shí)需綜合考慮測(cè)量需求、儀器性能及使用環(huán)境等因素。以下是關(guān)鍵選擇要點(diǎn)：明確測(cè)量需求測(cè)量范圍與精度半導(dǎo)電材料（如橡塑護(hù)套、電纜接管）的電阻值通常介于 \(10^{-4} \Omega \cdot \text{cm}\) 至 \(10^8 \Omega \cdot \text{cm}\) 之間。

需確保測(cè)試儀的測(cè)量范圍覆蓋實(shí)際應(yīng)用需求。例如，若需測(cè)量中高值電阻（\(10^6 \sim 10^8 \Omega\)），應(yīng)選擇量程擴(kuò)展能力強(qiáng)的儀器，并關(guān)注其誤差范圍（如2兆歐檔誤差±0.5%讀數(shù) 2字）。精度要求：高精度場(chǎng)景（如實(shí)驗(yàn)室）需選擇誤差更小的儀器，而常規(guī)檢測(cè)可適當(dāng)放寬精度要求。

測(cè)試電流適配性半導(dǎo)電材料對(duì)測(cè)試電流敏感，需根據(jù)材料特性選擇電流檔位。例如，某些儀器提供1微安、0.1微安等多檔位輸出，避免電流過(guò)大導(dǎo)致材料損傷或測(cè)量失真。核心功能與技術(shù)特性四端子測(cè)量法采用四端子法可消除接觸電阻的影響，提升測(cè)量準(zhǔn)確性，尤其適用于微電阻或高阻值測(cè)量場(chǎng)景。相較傳統(tǒng)兩線法或兆歐表，四線法更適合半導(dǎo)電材料的精密檢測(cè)。環(huán)境適應(yīng)性儀器需在特定溫濕度條件下工作（如溫度23±2°C、濕度<65%），選擇時(shí)需確認(rèn)其穩(wěn)定性和抗干擾能力，避免環(huán)境波動(dòng)導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏差。部分儀器內(nèi)置溫度補(bǔ)償功能，可減少溫度變化對(duì)電阻值的影響。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與顯示支持?jǐn)?shù)字顯示、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及導(dǎo)出功能的儀器更便于后續(xù)分析。

例如，3位數(shù)字顯示屏和自動(dòng)過(guò)載提示能提升操作效率。儀器類型與便攜性1.手持式 vs 臺(tái)式手持式：適合現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)，便攜性強(qiáng)，但可能犧牲部分精度或功能。實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景優(yōu)先選擇，通常具備更高精度和擴(kuò)展功能（如多檔位電流調(diào)節(jié)）。若需測(cè)量特殊形狀或尺寸的樣品（如扁鋼接地體），需搭配專用取樣器（如半導(dǎo)電橡塑電阻儀取樣器）以實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量。品牌與認(rèn)證符合行業(yè)標(biāo)選擇通過(guò)國(guó)家或國(guó)際認(rèn)證的儀器（如符合GB/T標(biāo)準(zhǔn)），確保安全性與可靠性。例如，部分儀器明確標(biāo)注符合電力行業(yè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)（如DL/T 845.4-2004）。

品牌與技術(shù)支持優(yōu)先選擇技術(shù)成熟、提供售后支持的品牌  北廣精儀儀器設(shè)備有限公司的設(shè)備提供完整的技術(shù)支持和售后服務(wù)，保障儀器的長(zhǎng)期穩(wěn)定使用。操作與維護(hù)便利性人機(jī)交互設(shè)計(jì)直觀的菜單操作、旋轉(zhuǎn)鼠標(biāo)輸入或自動(dòng)量程切換功能可簡(jiǎn)化操作流程，減少人為誤差。耐用性與維護(hù)選擇具備堅(jiān)固外殼、防塵防水（如IP54等級(jí)）的儀器，適應(yīng)戶外或復(fù)雜工業(yè)環(huán)境。同時(shí)，關(guān)鍵部件采用進(jìn)口元件的儀器壽命更長(zhǎng)。應(yīng)用場(chǎng)景擴(kuò)展

若需同時(shí)測(cè)量土壤電阻率或泄漏電流，可考慮多功能測(cè)試儀，但需確認(rèn)其是否兼容半導(dǎo)電材料特性�？偨Y(jié)建議明確被測(cè)材料的電阻范圍及測(cè)試環(huán)境，選擇匹配量程和精度的儀器優(yōu)先采用四端子法的設(shè)備，確保測(cè)量準(zhǔn)確性根據(jù)場(chǎng)景（現(xiàn)場(chǎng)/實(shí)驗(yàn)室）選擇便攜式或高精度臺(tái)式儀器。核查品牌資質(zhì)與售后服務(wù)，避免后續(xù)使用問題。  

例如，北廣精儀的的半導(dǎo)電電阻測(cè)試適合中高阻值測(cè)量，而需要更大電流擊穿氧化膜的場(chǎng)景可參考回路電阻測(cè)試儀的選型思路（如連續(xù)可調(diào)電流設(shè)計(jì)）。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。

范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用直排四探針測(cè)量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量直徑大于15.9mm的由外延、擴(kuò)散、離子注人到硅片表面上或表面下形成的薄層的平均薄層電阻。硅片基體導(dǎo)電類型與被測(cè)薄層相反。適用于測(cè)量厚度不小于0.2 μm的薄層，方塊電阻的測(cè)量范圍為10A~5000n.該方法也可適用于更高或更低照值方塊電阻的測(cè)量，但其測(cè)量較好度尚未評(píng)估。

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用商成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的較新版本。凡是不注日期的引用文件，其較新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 GB/T 1552 硅、儲(chǔ)單晶電阻率測(cè)定 直排四探針法

GB/T 11073 硅片徑向電阻率變化的測(cè)量方法提要

使用直排四探針測(cè)量裝置、使直流電流通過(guò)試樣上兩外探件，測(cè)量?jī)蓛?nèi)操針之間的電位差，引人與試樣幾何形軟有關(guān)的修正因子，計(jì)算出薄層電阻。

干擾因素探什材料和形狀及其和硅片表面接觸是否滿足點(diǎn)電流源注人條件會(huì)影響測(cè)試精度。 

電壓表輸入阻抗會(huì)引入測(cè)試誤差。 硅片幾何形狀，表面粘污等會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。

光照、高頻、需動(dòng)、強(qiáng)電磁場(chǎng)及溫醒度等測(cè)試環(huán)境會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，試劑優(yōu)級(jí)純，純水，25 ℃時(shí)電阻率大于 2 MN·cm。 99.5%。 干燥氮?dú)�。測(cè)量?jī)x器探針系統(tǒng)操針為具有45"～150°角的圓罐形破化鴨振針，針實(shí)半徑分別為35 μm~100μm.100 μm~250 μm 的半球形或半徑為 50 μm~125 μm 的平的圓截面。探針與試樣壓力分為小于0.3 N及0.3 N~0.8N兩種。

探針（帶有彈簧及外引線）之間或探針系統(tǒng)其他部分之間的絕緣電照至少為10°Ω. 探針排列和間距，四探針應(yīng)以等距離直線排列，探針閥距及針突狀況應(yīng)符合 GB/T 552中的規(guī)定。

樣品臺(tái)和操針架樣品臺(tái)和探針架應(yīng)符合 GB/T152 中的規(guī)定。 樣品臺(tái)上應(yīng)具有旋轉(zhuǎn) 360"的裝置。其誤差不大于士5"，測(cè)量裝置測(cè)量裝置的典型電路叉圖1，

恒意源，按表1的推薦值提供試樣所需的電流，精度為±0.5%.電流換向開關(guān)

標(biāo)準(zhǔn)電阻;按表2的薄層電阻范圍選取所需的標(biāo)準(zhǔn)電，精度0.05 級(jí)雙刀雙撐電位選擇開關(guān)。

電位差計(jì)和電流計(jì)或數(shù)字電壓表，量程為1mV~100mV，分辨率為0.1%，直流輸入阻抗不小

于10*0.電子測(cè)量裝置適用性應(yīng)符合GB/T 1552 的規(guī)定。 歐嬌表，能指示阻值高達(dá) 10°日 的漏電阻. 溫度針o℃～40 ℃，較小刻度為0.1 ℃。

化學(xué)實(shí)驗(yàn)室器具，如;塑料燒杯，量杯和適用于酸和溶劑的涂塑懾子等。試樣制備如試樣表面潔凈，符合測(cè)試條件可直接測(cè)試，否則，按下列步驟清洗試樣后測(cè)試∶試樣在585中源洗1min。如必要，在585中多次源洗，直到被干燥的試樣無(wú)污跡為止。將試樣干燥。 放入氫氟酸中清洗1 min。 用純水洗凈。 用585源洗干凈， 用氮?dú)獯蹈伞?/p>

測(cè)量條件和步驟整個(gè)測(cè)試過(guò)程應(yīng)在無(wú)光照，無(wú)離頻和無(wú)振動(dòng)下進(jìn)行。

用干凈涂題顆子或吸筆將試樣置于樣品臺(tái)上，試樣放置的時(shí)間應(yīng)足夠長(zhǎng)，達(dá)到熱平衡時(shí)，試樣溫度為23 ℃±1℃.

對(duì)于薄層厚度小于3μm的試樣，選用針尖半徑為 100 μm~250 μm的半球形探針或針尖率徑為50 μm～125 pm平頭探針，針尖與試樣間壓力為0.3 N~0.8Ni對(duì)于薄層厚度不小于3μ的試樣，選用針尖半徑為 35 μm~100 pm 半球形操針，針尖與試樣間壓力不大于0.3 N.

將操針下降到試樣表面測(cè)試，使四探行針高等陣列的中心落在試樣中心1.00mm范圍內(nèi)。 

接通電流，令其任一方向?yàn)檎�向，調(diào)節(jié)電流大小見表1所給出的某一合適值，測(cè)量并記錄所得數(shù)據(jù)。所有測(cè)試數(shù)據(jù)至少應(yīng)取三位有效數(shù)字。 改變電流方向，測(cè)量、記錄數(shù)據(jù)。關(guān)斷電流，搶起探針裝置，對(duì)仲裁測(cè)量，探針間距為1.59 mm，將樣品分別旋轉(zhuǎn)30°±5，重復(fù)8.4～~8.7的測(cè)量步驟，測(cè)5組數(shù)據(jù)，測(cè)量結(jié)果計(jì)算

試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容∶試樣編號(hào); 試樣種類; 試樣薄層厚度;測(cè)試電流; 測(cè)試溫度;試樣薄層電阻; 本標(biāo)準(zhǔn)編號(hào); h） 測(cè)量、測(cè)量者和測(cè)量日期。

對(duì)仲裁測(cè)量，報(bào)告還應(yīng)包括對(duì)探針狀況、電測(cè)裝置的精度、所測(cè)原始數(shù)據(jù)及處理結(jié)果。

適用范圍四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。

測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求電阻測(cè)量范圍：電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、電阻：1×10-5～2×105Ω電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm分辨率： 小1μΩ   測(cè)量誤差±5%測(cè)量電壓量程：2mV  20mV 200mV2V測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV電流輸出：直流電流?0～1000mA

連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,誤差：±0.2%讀數(shù)±2字主機(jī)外形尺寸330mm*340mm*120mm顯示方式：液晶顯示電源：220±10% 50HZ/60HZ 標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針法GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針法GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無(wú)損檢測(cè)、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用直排四探針測(cè)量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量直徑大于15.9mm的由外延、擴(kuò)散、離子注人到硅片表面上或表面下形成的薄層的平均薄層電阻。

硅片基體導(dǎo)電類型與被測(cè)薄層相反。適用于測(cè)量厚度不小于0.2 μm的薄層，方塊電阻的測(cè)量范圍為10A~5000n.該方法也可適用于更高或更低照值方塊電阻的測(cè)量，但其測(cè)量度尚未評(píng)估。下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用商成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 GB/T 1552 硅、儲(chǔ)單晶電阻率測(cè)定 直排四探針法GB/T 11073 硅片徑向電阻率變化的測(cè)量方法提要使用直排四探針測(cè)量裝置、使直流電流通過(guò)試樣上兩外探件，測(cè)量?jī)蓛?nèi)操針之間的電位差，引人與試樣幾何形軟有關(guān)的修正因子，計(jì)算出薄層電阻。干擾因素探什材料和形狀及其和硅片表面接觸是否滿足點(diǎn)電流源注人條件會(huì)影響測(cè)試精度。 電壓表輸入阻抗會(huì)引入測(cè)試誤差。 硅片幾何形狀，表面粘污等會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。光照、高頻、需動(dòng)、強(qiáng)電磁場(chǎng)及溫醒度等測(cè)試環(huán)境會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，試劑****，優(yōu)級(jí)純，純水，25 ℃時(shí)電阻率大于 2 MN·cm。 ****，99.5%。 干燥氮?dú)�。測(cè)量?jī)x器探針系統(tǒng)操針為具有45"～150°角的圓罐形破化鴨振針，針實(shí)半徑分別為35 μm~100μm.100 μm~250 μm 的半球形或半徑為 50 μm~125 μm 的平的圓截面。

雙極板電阻率測(cè)試儀

在其他的樹脂/石墨復(fù)合材料雙極板的研究中，采用模壓成型制備了碳納米管/聚丙烯納米復(fù)合材料雙極板，研究了聚丙烯結(jié)晶度對(duì)碳納米管分散的影響。結(jié)果表明，低結(jié)晶度的聚丙烯對(duì)碳納米管的分散性好，并且相應(yīng)的雙極板的導(dǎo)電性、力學(xué)性能、熱穩(wěn)定性較好。 制備了苯并噁嗪/石墨復(fù)合材料雙極板，分別研究了人造石墨、天然石墨、膨脹石墨復(fù)合材料雙極板的性能，并與粘結(jié)劑為酚醛樹脂時(shí)的雙極板性能做了比較，結(jié)果表明，3種石墨以苯并噁嗪為粘結(jié)劑時(shí)，雙極板的氣密性、力學(xué)性能較好，電導(dǎo)率較高，主要是因?yàn)楸讲�噁嗪固化時(shí)無(wú)副產(chǎn)物，熔化時(shí)粘度低、流動(dòng)性較好。

樹脂/石墨復(fù)合材料雙極板制備工藝 利用樹脂/石墨復(fù)合材料制作雙極板可通過(guò)模壓或注射工藝成型，流場(chǎng)可被一次成型，適合大規(guī)模生產(chǎn)，可降低雙極板的生產(chǎn)成本。 注射成型 注射成型是低成本、大批量生產(chǎn)塑料制品的非常好的加工方法，同時(shí)也是開發(fā)高技術(shù)產(chǎn)品不可或缺的加工技術(shù)。注射成型復(fù)合材料雙極板是將特定比例的導(dǎo)電填料與樹脂混合料從注塑機(jī)的料斗關(guān)入機(jī)筒內(nèi)，被加熱融化后的混合料通過(guò)柱塞加壓經(jīng)由噴嘴注入閉合模具內(nèi)，經(jīng)冷卻定型后，脫模得到制品。 導(dǎo)電基體可以為石墨、不銹鋼合金纖維，為了進(jìn)一步提高雙極板的綜合性能，可以添加炭黑、碳纖維、碳納米管等填料。其主要優(yōu)點(diǎn)是成型周期短、生產(chǎn)效率高、成本低。缺點(diǎn)是注射成型時(shí)需要的樹脂量較多，雖然提高了雙極板的力學(xué)性能，但是雙極板的電性能受到很大影響，會(huì)降低雙極板的市場(chǎng)影響力。盡管如此，由于注射成型技術(shù)的優(yōu)越性，人們還是期望用這種方法成型出高性價(jià)比的雙極板。 用注射成型機(jī)一步成型雙極板，生產(chǎn)了電導(dǎo)率介于5~150S/cm的樹脂/石墨復(fù)合雙極板，同時(shí)建立了一條注射成型雙極板生產(chǎn)線。研究指出，要生產(chǎn)特定性能的復(fù)合材料雙極板，需要對(duì)注射成型生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行優(yōu)化，其中包括對(duì)關(guān)鍵生產(chǎn)步驟的確定和對(duì)工藝參數(shù)的調(diào)整。

用注射成型機(jī)分別生產(chǎn)了聚丙烯/石墨和酚醛樹脂/石墨復(fù)合材料雙極板。研究結(jié)果表明，若將德國(guó)西格里碳素技提出的模具模塊化設(shè)計(jì)概念應(yīng)用到生產(chǎn)聚丙烯/石墨復(fù)合雙極板中，則生產(chǎn)1000塊小批量的雙極板就可以抵消制作模具的成本。若年產(chǎn)量達(dá)100000塊以上，則可以達(dá)到固定電源要求的100Ω/kW的目標(biāo)成本。對(duì)于利用注射成型生產(chǎn)的酚醛樹脂/石墨復(fù)合材料雙極板，電導(dǎo)率有所提高，熱穩(wěn)定性為100℃以上。 采用注射成型方法制備了聚丙烯/石墨復(fù)合材料雙極板，并研究了石墨粒徑及尺寸對(duì)復(fù)合材料雙極板彎曲強(qiáng)度和導(dǎo)電性能的影響。研究結(jié)果表明，由3種尺寸（40μm、100μm、150μm）的石墨顆粒得到的復(fù)合材料的電導(dǎo)率高為9.13S/cm，硬度為34.3HV；由單一尺寸（150μm）的石墨顆粒得到的復(fù)合材料的電導(dǎo)率高為49.2S/cm；由單一尺寸（100μm）的石墨顆粒得到的復(fù)合材料的硬度為47.2HV。模壓成型 模壓成型工藝是塑料加工工藝中古老的成型方法。

由于其使用歷史長(zhǎng)，成型技術(shù)已相當(dāng)成熟。在復(fù)合材料成型工藝中，模壓成型所占的比例較高。模壓成型雙極板是將混合均勻的導(dǎo)電填料與樹脂放入金屬模具中，在一定溫度、壓力作用下，樹脂受熱熔化、流動(dòng)，充滿整個(gè)模腔，固化后將基料粘接在一起，后經(jīng)冷卻、脫模得到制品。 合理地選擇工藝參數(shù)是影響模壓成型雙極板性能的關(guān)鍵之一，如模壓溫度、模壓時(shí)間、模壓壓力及后處理溫度與時(shí)間。為保證制品的致密性，模壓過(guò)程中還要進(jìn)行間歇排氣。模壓后制品的脫模效果影響著制品的完整性及表面質(zhì)量，尤其是帶有復(fù)雜流道的雙極板，因此脫模劑的選擇也是關(guān)鍵之一。

經(jīng)統(tǒng)計(jì)，近10年來(lái)有關(guān)樹脂/石墨PEMFC雙極板成型的研究文獻(xiàn)中，模壓成型大約占65%以上。除了文獻(xiàn)之外，采用模壓成型技術(shù)制備了酚醛樹脂/石墨復(fù)合材料雙極板，其中以炭黑和碳纖維作為增強(qiáng)材料，試驗(yàn)得出材料的佳配比是m(PE):m(NG CF):m(CB)=30:65:5，此時(shí)雙極板橫向截面和縱向截面的電導(dǎo)率分別為286S/cm和92S/cm，彎曲強(qiáng)度為55.28MPa，腐蝕電流密度為0.99μA·cm-2。采用模壓成型方法制備了聚酰亞胺/膨脹石墨復(fù)合材料雙極板，當(dāng)聚酰亞胺質(zhì)量分?jǐn)?shù)為40%~50%時(shí)，其電導(dǎo)率和彎曲強(qiáng)度均在100S/cm和50MPa之上。 采用模壓成型技術(shù)制備了碳織物增強(qiáng)環(huán)氧樹脂/石墨復(fù)合材料性能的影響，并探究了雙極板的幾何參數(shù)對(duì)其表面性質(zhì)的升高，電導(dǎo)率升高；雙極板的幾何參數(shù)中，脊寬和流道的深度對(duì)其模壓成型性影響較大而流道寬度影響較小。

測(cè)試電流適配性半導(dǎo)電材料對(duì)測(cè)試電流敏感，需根據(jù)材料提升測(cè)量準(zhǔn)確性，尤其適用于微電阻或高阻值測(cè)量場(chǎng)景。相較傳統(tǒng)兩線法或兆歐表，四線法更器類型與便攜性1.手持式 vs 臺(tái)式手持式：適合現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)，便攜性強(qiáng)，但可能犧牲部分精如2兆歐檔誤差±0.5%讀數(shù) 2字）。精度要求：高精度場(chǎng)景（如實(shí)驗(yàn)室）需選擇誤差更小的儀器粉體電阻率測(cè)試儀的選型需綜合考慮測(cè)量需求、材料特性、測(cè)試環(huán)境及預(yù)算等因素。以下是基于搜索結(jié)果的選型關(guān)鍵點(diǎn)分析及推薦：核心選型要素測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與適用材料 電流換向開關(guān)電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm特性�？偨Y(jié)建議明確被測(cè)材料的電阻范圍及測(cè)試環(huán)境，選擇匹配量程和精度的儀器優(yōu)先采用四電位差計(jì)和電流計(jì)或數(shù)字電壓表，量程為1mV~100mV，分辨率為0.1%，直流輸入阻抗不小電阻：1×10-5～2×105Ωcm) 之間。

需確保測(cè)試儀的測(cè)量范圍覆蓋實(shí)際應(yīng)用需求。例如，若需測(cè)量中高光照、高頻、需動(dòng)、強(qiáng)電磁場(chǎng)及溫醒度等測(cè)試環(huán)境會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，若需同時(shí)測(cè)量土壤電阻率或泄漏電流，可考慮多功能測(cè)試儀，但需確認(rèn)其是否兼容半導(dǎo)電材料及導(dǎo)出功能的儀器更便于后續(xù)分析。例如，3位數(shù)字顯示屏和自動(dòng)過(guò)載提示能提升操作效率。與維護(hù)選擇具備堅(jiān)固外殼、防塵防水（如IP54等級(jí)）的儀器，適應(yīng)戶外或復(fù)雜工業(yè)環(huán)境。同時(shí)本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量直徑大于15.9mm的由外延、擴(kuò)散、離子注人到硅片表面上或表面下形成的薄層的平均薄層電阻。硅片基體導(dǎo)電類型與被測(cè)薄層相反。適用于測(cè)量厚度不小于0.2 μm的薄層，方塊電阻的測(cè)量范圍為10A~5000n.該方法也可適用于更高或更低照值方塊電阻的測(cè)量，但其測(cè)量度尚未評(píng)估。參考回路電阻測(cè)試儀的選型思路（如連續(xù)可調(diào)電流設(shè)計(jì)）。

考慮廠商技術(shù)支持能力，注意事項(xiàng)誤差來(lái)源：粉末壓實(shí)度、模具清潔度、環(huán)境溫濕度均可能影響結(jié)果，需規(guī)范操作流程。校準(zhǔn)維護(hù)定期使用標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)（如 1-5 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電阻選配），確保長(zhǎng)期穩(wěn)定性。雙刀雙撐電位選擇開關(guān)。適合半導(dǎo)電材料的精密檢測(cè)。環(huán)境適應(yīng)性儀器需在特定溫濕度條件下工作（如溫度23±2°C、于10*0.電子測(cè)量裝置適用性應(yīng)符合GB/T 1552 的規(guī)定。 歐嬌表，能指示阻值高達(dá) 10°日 的漏電阻. 溫度針o℃～40 ℃，小刻度為0.1 ℃。

自動(dòng)化操作高端型號(hào)  北廣精儀儀器設(shè)備公司支持自動(dòng)加壓、脫模、數(shù)據(jù)采集及生成曲線圖譜，適合批量測(cè)試需求；手動(dòng)型號(hào)成本較低。附加功能部分儀器集成溫度、壓強(qiáng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，或支持高溫測(cè)試適用于模擬極端環(huán)境下的電性能分析。電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).準(zhǔn)），確保安全性與可靠性。

例如，部分儀器明確標(biāo)注符合電力行業(yè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)（如DL/T 845.4測(cè)量電壓量程：2mV20mV200mV2V測(cè)量范圍與精度電阻率范圍：多數(shù)儀器的電阻率覆蓋范圍為 (10^-7- 10^8 Omega )，部分高溫型號(hào)可達(dá)更高范圍（如 \(10^-8- 10^8 Omega）。精度要求：高精度型號(hào)的電阻率測(cè)量誤差可低至 ±0.01 μΩ·m，而經(jīng)濟(jì)型設(shè)備誤差通常為 ±0.1%～±0.3%。電流與電壓精度恒流源輸出需穩(wěn)定（如 ±0.01 mA），電壓分辨率需達(dá) 0.1 μV 以支持微小信號(hào)檢測(cè)。提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求電壓表輸入阻抗會(huì)引入測(cè)試誤差。 硅片幾何形狀，表面粘污等會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

 

適用范圍四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。樣品臺(tái)和操針架樣品臺(tái)和探針架應(yīng)符合 GB/T152 中的規(guī)定。 樣品臺(tái)上應(yīng)具有旋轉(zhuǎn) 360"的裝置。其誤差不大于士5"，測(cè)量裝置測(cè)量裝置的典型電路叉圖1，恒意源，按表1的推薦值提供試樣所需的電流，精度為±0.5%.品牌與技術(shù)支持優(yōu)先選擇技術(shù)成熟、提供售后支持的品牌 北廣精儀儀器設(shè)備有限公司的設(shè)備適用范圍四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 若需高溫環(huán)境模擬（如半導(dǎo)體材料），優(yōu)先選擇 北廣精儀 高溫型號(hào)。關(guān)注兼容性與擴(kuò)展性 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。顯示方式：液晶顯示使用直排四探針測(cè)量裝置、使直流電流通過(guò)試樣上兩外探件，測(cè)量?jī)蓛?nèi)操針之間的電位差，引人與試樣幾何形軟有關(guān)的修正因子，計(jì)算出薄層電阻。