日立X-Strata920X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
日立X-Strata920使用X射線熒光(XRF)進(jìn)行的鍍層厚度測(cè)量是經(jīng)過(guò)證明的快速的無(wú)損分析技術(shù),X-Strata920設(shè)計(jì)為面向電子產(chǎn)品和金屬表面 處理,測(cè)量單層和多鍍層(包括合金層),應(yīng)用相關(guān)人士對(duì) X-Strata920 進(jìn)行了進(jìn)一步升級(jí), 確保獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果,滿足數(shù)百種應(yīng)用,包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
X-Strata920X這一不錯(cuò)的工具可確保樣品符合規(guī)格,同時(shí)通過(guò)避免過(guò)度電鍍和返工來(lái)降低成本。操作員只需加載樣品,將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方,使用激光焦點(diǎn)對(duì)齊,即可開始測(cè)量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來(lái),然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。得益于通過(guò)可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式,您將對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。日本日立提供多種鍍層厚度解決方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920)
使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)規(guī)范,如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
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