X熒光光譜儀EDX4500

性能參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：60秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm 
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

性能特點

效率高超薄窗X光管，指標達到全部先進水平 
較新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢驗中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增效果好應得到明顯的舒緩
內(nèi)置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標準配置

效率高超薄窗X光管 
SDD硅漂移探測器 
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試專項使用配件 
光路增強系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內(nèi)置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩(wěn)譜裝置 
三重安全保護模式 
相互單獨的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序 
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證 
90mm×70mm的液晶屏 
真空泵

應用領(lǐng)域

鋼鐵檢驗、全元素分析、有害元素檢驗（RoHS、鹵素等）