供應(yīng)美國博曼半導(dǎo)體膜厚測試儀

美國博曼（Bowman）半導(dǎo)體膜厚測試儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。
電制冷固態(tài)探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。
探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。
您可以針對您的應(yīng)用選擇合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。
美國博曼（Bowman）半導(dǎo)體膜厚測試儀的產(chǎn)品特點：可檢測元素范圍：AL13 – U92.可同時測定5層/15種元素/共存元素校正.即放即測！通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！以佳的設(shè)計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。無標樣測量！將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質(zhì)也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（大250×200mm）中方便地指定測量位置

1898年11月8日，倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，從此無損檢測技術(shù)開始發(fā)生了質(zhì)的變革。它使固體內(nèi)部的缺陷得以直觀地顯現(xiàn)出來。X射線是一束光子流。在真空中，它以光速直線傳播，本身不帶電，故不受電磁場的影響。具有波粒二象性。從物理學(xué)中，我們知道，凡具有加速度的帶電粒子都會產(chǎn)生電磁輻射。因此當電子在高壓電場的作用下，高速運動時，突然撞擊到靶面，（會產(chǎn)生很大的負加速度）從而形成了所謂的韌致輻射。簡單地說，它是由高速運動的電子撞擊靶面而產(chǎn)生的。另一方面，當電子的動能足夠大時，將會把靶面原子的內(nèi)層電子轟擊出來，在原位置形成孔穴，而此刻，外層的電子（位于高能級）產(chǎn)生躍遷以填補該孔穴。同時，它將多余的能量以X射線的形式放出，形成所謂的標識X射線。標識射線的波長是不連續(xù)的。它取決于靶面的材料。通常用于對材料的化學(xué)成分進行定性分析。在無損檢測探傷中，一般用前者。