合金分析儀

一、儀器簡(jiǎn)述：

X-CALIBUR SDD 非常適合于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室操作，它還包括了完全整合的電腦系統(tǒng)。重型設(shè)計(jì)及制造使得該儀器成為移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。

二、創(chuàng)新點(diǎn)：

 其配置的硅漂移探測(cè)器所提供的高能量分辨率使其功能更強(qiáng)，精度更高

 6款量身定制的過(guò)濾器讓您的應(yīng)用更便捷

 實(shí)用的設(shè)計(jì)，緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

 8/16個(gè)樣品位置

三、儀器規(guī)格

 穩(wěn)定性：室溫條件下到0.1% ，穩(wěn)定性能優(yōu)，確保機(jī)器正常運(yùn)行，

 工作條件：空氣/氦氣

 電力供應(yīng)：115VAC/60Hz，230VAC/50Hz

 尺寸（L×W×H，cm）：55×55×32(不含包裝)，80×80×65（含包裝）

 重量：50Kg(凈重)，90Kg(總重)

四、儀器硬件主體配置

4.1高壓發(fā)生器

 超靜音設(shè)計(jì)，去除噪音，創(chuàng)造良好的工作環(huán)境

 激發(fā)電壓：50KV

 保護(hù)電路：過(guò)電壓、過(guò)電流、過(guò)功率保護(hù)，X射線自鎖, 確保機(jī)器使用安全性

 

4.2X射線管

 陽(yáng)極材料：Rh-陽(yáng)極標(biāo)準(zhǔn)

 功率：50W

 采用風(fēng)冷設(shè)計(jì)，能連續(xù)長(zhǎng)時(shí)間工作

 

4.3濾光片/二次靶：6款濾光片可選

 

4.4探測(cè)器

 探測(cè)器類型：硅漂移探測(cè)器（SDD）

 制冷方式：熱電制冷

 分析元素范圍：F(9)~Fm（100）

 分析元素含量范圍：ppm~100%

 探測(cè)器分辨率：SDD:129eV±5eV 

 

4.6其他

 測(cè)試樣品形態(tài):固體、粉末、液體

 一體式計(jì)算機(jī)及打印機(jī)

 防輻射安全系統(tǒng)：通過(guò)CE安全認(rèn)證，距離儀器5cm 處輻射范圍：< 0.25 mR/Hr 。裝有X射線防泄漏裝置，X-射線發(fā)生器僅在分析樣品時(shí)自動(dòng)開啟和自動(dòng)關(guān)閉，不做樣品時(shí)不發(fā)射。

 可配置真空系統(tǒng)，提高輕元素的檢測(cè)精度。

 采用USB數(shù)據(jù)傳輸。

 

五、儀器軟件配置

 分析軟件：nEXt分析軟件， 運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級(jí)基本參數(shù)算法，操作簡(jiǎn)便，直觀易懂。

 控制軟件：樣品激發(fā)，探測(cè)，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制。

 光譜處理：逃逸峰及背底的自動(dòng)去除，自動(dòng)重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告。

 定量分析算法：考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）。總計(jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。

 報(bào)告輸出：用戶可自定數(shù)據(jù)報(bào)表格式及打印形式