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主營:膜厚測試儀,鍍層膜厚測試儀,半導體膜厚測試儀,鍍金膜厚儀

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膜厚儀(美國博曼)

價格

電議 元/臺

  • 單價:電議
  • 最小起訂量: 1
  • 所在地:廣東 深圳
  • 供貨總量: 10
  • 發(fā)布時間:2016-03-14

聯(lián)系方式

產品描述

 

 

美國鍍金XRAY膜厚測試儀結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

 

 

 

美國鍍金XRAY膜厚測試儀產品特點:即放即測! 

 

 

 

通過自動定位功能,放置樣品后僅需幾秒,便能自動對準觀察樣品焦點。 

 

 

 

10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量! 

 

 

 

美國膜厚儀以的設計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度,即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 

 

 

 

無標樣測量! 將薄膜FP軟件進一步擴充,即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置! 通過廣域觀察系統(tǒng),能夠從畫面上的樣品整體圖(250×200mm)中方便地指定測量位置。

 

 

 

今天,在科技飛速發(fā)展的時代,對品質的要求也越來越高,博曼(bowman)可以達到您的要求,保證并提高你的產品品質!

 

 

 

 

 

美國博曼金鎳膜厚儀(膜厚儀)能提供金屬鍍層厚度的測量同時可對電鍍液進行分析不單性能優(yōu)越而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺鐳射自動對焦系統(tǒng)十字線自動調整.超大開放式的樣品臺可測量較大的產品.是線路板五金電鍍首飾端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

 

 

 

金鎳膜厚儀(測厚儀)可測元素范圍:

 

 

 

氯(CL) &ndash 鈾(U)

 

 

 

可測量厚度范圍:

 

 

 

原子序2225,0.10.8&mum&le

 

 

 

2640,0.0535&mum

 

 

 

4352,0.1100&mum

 

 

 

7282,0.055&mum

 

 

 

X射線管:油冷超微細對焦

 

 

 

高壓:050KV(程控)

 

 

 

電腦系統(tǒng):IBM相容17&rdquo顯示器

 

 

 

金鎳膜厚儀(測厚儀)的性能比:能夠有效并的測量合金屬成分,只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 

 

 

 

二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 

 

 

 

三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。 

 

 

 

雙鍍層:例如AuNiCu,CrNiCu,AuAgNi,SnCuBrass,等等。 

 

 

 

雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如CrNiCuPlastic;Fe。

 

 

 

期待您的來電,金東霖  

 

 

 

 

 

 

 

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