Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.
主營:涂鍍層測厚儀,水質(zhì)離子測試包,離子污染測試儀,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,表面張力滴重計,哈氏槽,溫濕度記錄儀,輻射測量儀
Au/Al 臺式光譜儀用鋁上鍍金層電鍍標準片
高純度的單元素金膜,沉積在鋁基底上;咨襄兡藴势炔瓨藴势鼒怨糖彝ǔ3杀靖,但通常適用于一個或一種鍍層厚度應(yīng)用。XRF使用基底上鍍膜標準片來校準具有與標準片相同或相似基底的樣品上的單層厚度測試應(yīng)用。如果標準片的基底與測試樣品的基底不同,請在購買前標準片之前聯(lián)系您的XRF供應(yīng)商:上海益朗儀器有限公司;咨襄兡藴势ǔ0惭b在與箔標準片相同的框架中,暴露出標準片的有限區(qū)域用于測量。
鋁上鍍金層電鍍標準片選購指南:
Au/Al (Gold/Aluminium) Single Layer Coating on Substrates XRF Coating Thickness Standards |
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貨號 |
標稱值 |
SAU10AL999 |
10μin(0.25μm) |
SAU20AL999 |
20μin(0.5μm) |
SAU80AL999 |
80μin(2μm) |
SAU200AL999 |
200μin(5.0μm) |
以上為常用厚度,如需要特殊厚度或需要其他基材,請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。
注意:
1.對于小于等于1微米(40μin)的厚度,交貨標準的允許厚度偏差為±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),則所交付標準的允許層厚度偏差為±15%。
3.均勻度:5%。
4.認證厚度不確定度(95%置信區(qū)間)±5%。
定義:
均勻度的定義是:(Z大厚度–Z小厚度)/平均
表示為百分比,其中可以在標準暴露表面的任何位置確定厚度。
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