PD-CT1
涂層測厚儀
中科樸道技術(shù)(北京)有限公司
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1概述
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域,是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。
本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1基本參數(shù)
l 采用了磁性和渦流兩種測厚方法
l 測量范圍:(0~1250)μm
l 低限分辨率:1μm
l 測量精度: ±(1%H+1)μm,H為被測涂層厚度
l 顯示方法:高對比度的LCD液晶顯示,高亮度EL背光
l 存儲容量:可存儲5組測量數(shù)據(jù),每組多保存100個(gè)測量值
l 顯示單位:公制(μm)、英制(mil)
l 工作電壓:3V(一節(jié)CR123A型鋰電池)
l 外形尺寸:136mm×76mm×25mm
l 整機(jī)重量:約200g
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1特點(diǎn)
l 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;
l 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
l 具有兩種工作方式:直接方式(DRT)和批組方式(GRP);
l 具有高精度測量模式:多次測量取平均,并對可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動過濾,可確保測量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;
l 具有溫度補(bǔ)償功能:可自動對環(huán)境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進(jìn)行補(bǔ)償,使測量更準(zhǔn)確;
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
l 可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
l 具有半自動在線模式,只要打開連續(xù)測量和批組模式,關(guān)閉高精度,可以拿著探頭在被測物體上實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測量和實(shí)時(shí)存儲功能。
l 具有耐酸堿型,采用人工紅寶石,和高抗酸堿的材質(zhì)保護(hù)探頭
l 具有存儲功能:多可存儲500個(gè)測量值;
l 具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測量;
l 可設(shè)置限界:對限界外的測量值自動報(bào)警;
l 具有電源電量指示功能;
l 操作過程有蜂鳴聲提示;
l 設(shè)有三種關(guān)機(jī)方式:手動關(guān)機(jī)方式、超時(shí)自動關(guān)機(jī)方式以及低電量自動關(guān)機(jī)方式,并可設(shè)置超時(shí)自動關(guān)機(jī)等待時(shí)間,自動關(guān)機(jī)時(shí)伴有背光閃爍及蜂鳴提示;
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1使用環(huán)境
l 溫度:0℃~40℃
l 濕度:20%RH~90%RH
l 周圍環(huán)境無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈磁場、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1標(biāo)準(zhǔn)配置
名稱
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數(shù)量
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涂層測厚儀主機(jī)
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1臺
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F型或N型測頭
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1只
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標(biāo)準(zhǔn)片
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5片
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F型或N型基體
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1塊
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CR123A型3V鋰電池
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1節(jié)
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使用說明書
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1本
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合格證
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1張
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產(chǎn)品保修卡
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1張
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質(zhì)量反饋意見書
|
1張
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石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1技術(shù)參數(shù)表
測頭類型
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F型
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N型
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工作原理
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磁感應(yīng)
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渦流
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測量范圍(μm)
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0~1250
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0~1250
銅上鍍鉻 0~40
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低限分辨力(μm)
|
1
|
1
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示值
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零點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)
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±(1%H+1)
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±(1%H+1)
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兩點(diǎn)校準(zhǔn)(μm)
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±[(1~3)%H+1]
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±[(1~3)%H+1]
|
測
試
條
件
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小曲率半徑(mm)
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凸 1.5
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凸3
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小面積的直徑(mm)
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Φ7
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Φ5
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基體臨界厚度(mm)
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0.5
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0.3
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注:H——厚度標(biāo)稱值
石家莊氧化膜測厚儀pd-CT1測頭選用參考表
基體
覆蓋層
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有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、搪瓷、塑料和陽極化處理等)
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非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
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如鐵、鋼等磁性金屬
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F 型測頭
測量范圍:0~1250μm
|
F 型測頭
測量范圍:0~1250μm
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如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬
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N 型測頭
測量范圍:0~1250μm
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N 型測頭
僅用于銅上鍍鉻
測量范圍:0~40μm
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